Número do Produto do Fabricante:
SN74BCT8374ADWR
Product Overview
Fabricante:
Texas Instruments
DiGi Electronics Número da Peça:
SN74BCT8374ADWR-DG
Descrição:
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
Descrição Detalhada:
Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops IC 24-SOIC
Inventário:
1548991
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SN74BCT8374ADWR Especificações Técnicas
Categoria
Lógica, Lógica especial
Fabricante
Texas Instruments
Embalagem
-
Série
74BCT
Status do produto
Obsolete
Tipo de lógica
Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
Tensão de alimentação
4.5V ~ 5.5V
Número de bits
8
Temperatura de operação
0°C ~ 70°C
Tipo de montagem
Surface Mount
Pacote / Estojo
24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Pacote de dispositivos do fornecedor
24-SOIC
Número do produto base
74BCT8374
Folha de Dados & Documentos
Folhas de dados
Informação Adicional
Pacote padrão
2,000
Classificação Ambiental e de Exportação
RoHS Status
ROHS3 Compliant
Nível de sensibilidade à umidade (MSL)
1 (Unlimited)
REACH Status
REACH Unaffected
ECCN
EAR99
HTSUS
8542.39.0001
Certificação DIGI
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