SN74BCT8244ADW
Número do Produto do Fabricante:

SN74BCT8244ADW

Product Overview

Fabricante:

Texas Instruments

DiGi Electronics Número da Peça:

SN74BCT8244ADW-DG

Descrição:

IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
Descrição Detalhada:
Scan Test Device with Buffers IC 24-SOIC

Inventário:

43 Pcs Novo Original Em Estoque
1682950
Solicitar Orçamento
Quantidade
Mínimo 1
num_del num_add
*
*
*
*
(*) é obrigatório
Entraremos em contato dentro de 24 horas
ENVIAR

SN74BCT8244ADW Especificações Técnicas

Categoria
Lógica, Lógica especial
Fabricante
Texas Instruments
Embalagem
Tube
Série
74BCT
Status do produto
Active
Tipo de lógica
Scan Test Device with Buffers
Tensão de alimentação
4.5V ~ 5.5V
Número de bits
8
Temperatura de operação
0°C ~ 70°C
Tipo de montagem
Surface Mount
Pacote / Estojo
24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Pacote de dispositivos do fornecedor
24-SOIC
Número do produto base
74BCT8244

Folha de Dados & Documentos

Informação Adicional

Outros nomes
TEXTISSN74BCT8244ADW
SN74BCT8244ADW-DG
-SN74BCT8244ADW-NDR
SN74BCT8244ADWE4-DG
-SN74BCT8244ADWE4
SN74BCT8244ADWG4-DG
2156-SN74BCT8244ADW
296-47718
SN74BCT8244ADWG4
-SN74BCT8244ADWE4-NDR
SN74BCT8244ADWE4
Pacote padrão
25

Classificação Ambiental e de Exportação

RoHS Status
ROHS3 Compliant
Nível de sensibilidade à umidade (MSL)
1 (Unlimited)
REACH Status
REACH Unaffected
ECCN
EAR99
HTSUS
8542.39.0001
Certificação DIGI
Produtos Relacionados
microchip-technology

SY89850UMG-TR

IC DRVR/RCVR LVPECL PREC 8-MLF

microchip-technology

SY10EL16VEKC

IC RCVR DIFF 5V/3.3V 8-MSOP

texas-instruments

SN74BCT8373ANT

IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP

texas-instruments

SN74ABT8543DLR

IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP