Número do Produto do Fabricante:
SN74BCT8240ANT
Product Overview
Fabricante:
Texas Instruments
DiGi Electronics Número da Peça:
SN74BCT8240ANT-DG
Descrição:
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP
Descrição Detalhada:
Scan Test Device with Inverting Buffers IC 24-PDIP
Inventário:
1575848
Solicitar Orçamento
Quantidade
Mínimo 1
Mínimo 1
(*) é obrigatório
Entraremos em contato dentro de 24 horas
Entraremos em contato dentro de 24 horas
ENVIAR
SN74BCT8240ANT Especificações Técnicas
Categoria
Lógica, Lógica especial
Fabricante
Texas Instruments
Embalagem
-
Série
74BCT
Status do produto
Obsolete
Tipo de lógica
Scan Test Device with Inverting Buffers
Tensão de alimentação
4.5V ~ 5.5V
Número de bits
8
Temperatura de operação
0°C ~ 70°C
Tipo de montagem
Through Hole
Pacote / Estojo
24-DIP (0.300", 7.62mm)
Pacote de dispositivos do fornecedor
24-PDIP
Número do produto base
74BCT8240
Folha de Dados & Documentos
Folhas de dados
Fichas Técnicas
Folha de Dados HTML
Informação Adicional
Outros nomes
TEXTISSN74BCT8240ANT
2156-SN74BCT8240ANT-TI
-SN74BCT8240ANT-NDR
Pacote padrão
60
Classificação Ambiental e de Exportação
RoHS Status
ROHS3 Compliant
Nível de sensibilidade à umidade (MSL)
1 (Unlimited)
REACH Status
REACH Unaffected
ECCN
EAR99
HTSUS
8542.39.0001
Certificação DIGI
Produtos Relacionados
SN74BCT8245ADWR
IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC
SY100EL16VAZC TR
IC RCVR DIFF 5V/3.3V 8-SOIC
SY100EL16VZC-TR
IC RCVR DIFF 5V/3.3V 8-SOIC
